雷達(dá)物位計(jì)使用過(guò)程中需要注意什么

      1、液體、物位的測(cè)量

      對(duì)于液面相對(duì)平穩(wěn)的罐體，且被測(cè)液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達(dá)物位計(jì)。對(duì)于液面波動(dòng)大、或帶有攪拌的罐體，或被測(cè)液體的介電常數(shù)較低，應(yīng)導(dǎo)波雷達(dá)。因?yàn)閷?dǎo)波管對(duì)液面有整型作用，且導(dǎo)波雷達(dá)的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測(cè)液體的介電常數(shù)和密度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果沒(méi)有影響。對(duì)于被測(cè)液體的粘度250OCcst，且液體粘附性較強(qiáng)的情況，不能選擇導(dǎo)波管方式測(cè)量，因?yàn)檎掣胶徒Y(jié)晶會(huì)堵死導(dǎo)波管。從而形成虛假物位?？梢赃x擇導(dǎo)波桿方式來(lái)測(cè)量。當(dāng)介質(zhì)在探頭上的涂污對(duì)測(cè)量物位的影響可分為兩種:膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時(shí)，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對(duì)測(cè)星基本無(wú)影響;但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測(cè)量誤差，當(dāng)塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個(gè)波導(dǎo)體之間時(shí)，就會(huì)在該點(diǎn)測(cè)得虛假物位。

      2、固體物料測(cè)量

      對(duì)于粉狀物料，可以選擇纜式導(dǎo)波雷達(dá)。由于微波在鋼纜中傳輸，物料在輸送過(guò)程中產(chǎn)生的粉塵對(duì)測(cè)量沒(méi)有影響。閃速爐的精礦、石英、粉煤均采用E+H公司的FMP40系列的絡(luò)式導(dǎo)波雷達(dá)，測(cè)量效果良好。對(duì)于顆粒狀或塊狀物料，須選用高頻雷達(dá)物位計(jì)。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因?yàn)槲⒉ǖ念A(yù)率越高，微波的波長(zhǎng)越短，保證發(fā)射出去的雷達(dá)波能夠在粗糙的固體表面較大程度地被反射回雷達(dá)探頭，發(fā)射角愈小，形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小.

      3、介電常數(shù)的影響

      低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測(cè)介質(zhì)，導(dǎo)波雷達(dá)。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信號(hào)弱，信號(hào)衰減嚴(yán)重，物位波動(dòng)和泡沫散射引起信號(hào)減弱，罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信號(hào)，為此就需要發(fā)射較強(qiáng)的電磁波信號(hào)，并采用功能強(qiáng)的微處理器進(jìn)行復(fù)雜的信號(hào)處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達(dá)物位計(jì)價(jià)格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測(cè)量問(wèn)題。導(dǎo)波雷達(dá)和常規(guī)雷達(dá)一樣，采用傳輸時(shí)間來(lái)測(cè)量介質(zhì)物位，信號(hào)自經(jīng)類[介電常數(shù)2~3]液體表面或自水(介電常數(shù)8O)面反射回傳的時(shí)間一樣的，不同的只是信號(hào)幅度[強(qiáng)度]的差別。普通雷達(dá)須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識(shí)返回的各種信號(hào)，從雜散信號(hào)中檢出真正的物位信號(hào)，而導(dǎo)波雷達(dá)需測(cè)量電磁波的傳輸時(shí)間即可，無(wú)需信號(hào)的處理和辨別。